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| 超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之顆粒圖像處理儀 |
| 發(fā)布者：admin 發(fā)布時(shí)間：2022/2/26 8:31:31 點(diǎn)擊：5502 |
| 超細(xì)粉體檢測(cè)的方法已經(jīng)給大家介紹過超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之激光衍射散射法（激光粒度分析儀）檢測(cè)方法和超細(xì)粉體粒度細(xì)度檢測(cè)之離心沉降法，今天無錫臣力粉體設(shè)備有限公司給大家介紹第三種檢測(cè)方法顆粒圖像處理儀。 顆粒圖像處理儀式由光學(xué)顯微鏡、CCD攝像機(jī)、圖像捕捉卡和計(jì)算機(jī)組成。 性能特點(diǎn)： 1、除了可以檢測(cè)粒度之外還可以進(jìn)行一般的形貌特征分析。 2、所得測(cè)量結(jié)果直觀可靠，既可以直接測(cè)量粒度分布，又可以作為其他粒度儀器測(cè)試可靠性的評(píng)判參考儀器。 顆粒圖像處理儀主要的缺點(diǎn)為： 1、操作手續(xù)比較繁瑣，測(cè)量時(shí)間長(zhǎng)，易受人為因素的影響。 2、取樣量較少，代表性不強(qiáng)，適合測(cè)試粒度分布范圍比較窄的樣品。 無錫臣力粉體設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)粉體混合、球磨設(shè)備，歡迎各地客戶到我公司實(shí)地考察選購(gòu)。 |
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